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天瑞XRF光谱仪的检测原理和光学系统是怎样的
  • 发布日期:2022-05-07     信息来源:公司新闻      浏览次数:42
    •    天瑞XRF光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析,在冶炼过程控制中起到了测试时间短,大大提高了检测效率和工作效率的作用。

       
        天瑞XRF光谱仪的光学系统:
        主光路部分包括:标准进口光栅;稳定可靠的焦距罗兰圆出缝架。折反式前光路设计,使光路结构更加紧凑;方便可拆卸的光窗及入射狭缝设计,使维护清洁更加简单,出射狭缝采用德国高精度加工中心整体加工,包括所有可能用到的120个分析通道精确定位,可以满足各种基本元素分析;这种设计方法,为以后增加通道带来方便。
       
        铝合金整体光学室与特制中央空调式加热恒温设计,确保了光学室系统的长期稳定性。
       
        氩气流冲洗确保系统洁净,减少定期检修次数,根据应用不同,光学室可以用真空及非真空状态。
       
        天瑞XRF光谱仪是X射线光管发出的初级X射线照射样品,样品中原子的内层电子被激发,当外层电子跃迁时产生特征X射线,通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X射线波长(或能量)和强度,可以获得样品中的元素组成与含量信息,达到定性定量分析的目的。
       
        X射线是一种波长较短的电磁辐射,X射线与物质的相互作用主要有荧光、吸收和散射三种。